CIMT研討會(huì)題目及地點(diǎn)
力豐制造科技有限公司 (展臺(tái): W3-C104)
研討會(huì)地點(diǎn):中國(guó)國(guó)際展覽中心(新館) 綜合服務(wù)樓二層?xùn)|E-207室
研討會(huì)時(shí)間:下午1:30 – 4:30
研討會(huì)題目及簡(jiǎn)介
4月7日
Metris(邁卓斯)X-Tek X光斷層檢測(cè)技術(shù):展示現(xiàn)今高科技X光斷層于高精度檢測(cè)的應(yīng)用预烙,通過(guò)非摧毀性方式對(duì)檢測(cè)對(duì)象進(jìn)行外部及內(nèi)部三維檢測(cè)酬屉。
4月8日
Metris(邁卓斯)iGPS及激光雷達(dá)大型檢測(cè)技術(shù):介紹利用GPS概念的新科技如何把整個(gè)車間變成數(shù)碼空間负懦,而且可以無(wú)限擴(kuò)展【伦福現(xiàn)場(chǎng)講解航空及造船業(yè)的應(yīng)用案例缩滨。
4月9日
Metris(邁卓斯)MCA及LC60D掃描儀提供的便攜式數(shù)碼檢測(cè)方案:介紹以防操作疲勞為設(shè)計(jì)原則的測(cè)量臂(配合激光掃描儀及接觸式探針)如何輕易進(jìn)行掃描及檢測(cè)以前難于掃描的表面,比如:鏡面及黑色的表面泉瞻。
4月10日
Metris(邁卓斯)光學(xué)便攜式三座標(biāo)檢測(cè)系統(tǒng):現(xiàn)場(chǎng)演示以光學(xué)便攜式三座標(biāo)檢測(cè)系統(tǒng)進(jìn)行掃描脉漏、點(diǎn)對(duì)點(diǎn)或者實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)檢測(cè),協(xié)助用戶通過(guò)一便攜式系統(tǒng)在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行產(chǎn)品組裝分析袖牙。
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