"我們已使用PXI Express自動測試系統(tǒng)完成多個項目，并獲得非常滿意的效果恳不。自動測試系統(tǒng)大大減少了芯片測試的時間褥辰，而其快速、準確的直流測試更是實驗室的寶貴財富麸河。"

- Mario Konijnenburg, Holst Centre/imec

The Challenge:
        創(chuàng)建靈活的測試系統(tǒng)用于自動驗證和表征新的超低功耗半導體芯片設計力邻。

The Solution:
        使用NI LabVIEW軟件和NI PXI Express高速數(shù)字I/O設備開發(fā)自動測試系統(tǒng)，前者讀取測試向量冰枯，后者產(chǎn)生和接收數(shù)字數(shù)據(jù)认平，并同時以很高的精度測量芯片設計的直流損耗。

PXI Express測試儀器與實驗芯片相連接的測試平臺

我們在對一個新的存儲芯片設計進行實驗時庵窄，使用PXI- 4071測量和記錄在內(nèi)存寫（第一個傾斜）和內(nèi)存讀（第二個傾斜）操作時的μA級電流弃净。

這是主要的結構測試程序。包含二進制測試和仿真向量的多個.csv文件可以被加載并按順序輸出炉展。應用程序也可以指出仿真數(shù)據(jù)與實際采集的數(shù)字數(shù)據(jù)之間的可能誤差绩罩。

芯片上的無線系統(tǒng)

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