精密測試探針英文名Test probe赖阻，是精密電測試過程中必不可少的部件娶桦。在電子電路研發(fā)和生產(chǎn)的過程中双炕，經(jīng)常需要對信號的通斷以及質量進行測試分析狞悲，這個時候就需要使用精密測試探針將信號無損的接取出來提供給相應的ICT或者測試系統(tǒng)進行整合分析。

待測對象

測試探針質量的好壞妇斤，很大程度影響了測試的準確性以及可重復性摇锋。目前國際間比較知名的測試探針品牌有 QA，Ingun站超，IDI荸恕，PTR，F(xiàn)M顷编，Leeno等卤檐。

按照測試探針的應用領域來區(qū)分，測試探針又分為常規(guī)ICT探針七迂、半導體測試探針迟铺、RF高頻測試探針、大電流探針蒿由、電池接觸探針舅狭。

按照探針的結構來區(qū)分哼曙，還可以分為常規(guī)單頭彈簧針、雙頭BGA測試針秸严、針套轉接雙頭針等類別液互。

在探針的選型前期，需要重點考慮的幾個參數(shù)分別為：測試探針的間距恍肢、選擇待測對象合適的頭型匈歼、測試承載的電流、測試運動的行程以及需要選擇的彈力等摧辣。

（茂宇福Ruistek）

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