新加坡，2011年3月8日 —  法如科技有限公司（納斯達(dá)克：FARO），世界領(lǐng)先的便攜式測量設(shè)備以及成像解決方案供應(yīng)商坷疙，日前發(fā)布了全新三維光學(xué)掃描儀，即 FARO AMP悉通。

　　FARO AMP三維光學(xué)掃描儀是一種高性能的非接觸式三維成像設(shè)備涕肪，在好一些應(yīng)用領(lǐng)域達(dá)到了前所未有的精度。

　　FARO AMP三維光學(xué)掃描儀是一種高性能的非接觸式三維成像設(shè)備滤填，能在僅僅數(shù)秒內(nèi)采集數(shù)百萬個點(diǎn)锌烫。專利技術(shù)的使用使得AMP在零部件、組裝和工具應(yīng)用領(lǐng)域達(dá)到了前所未有的精度认扼。

　　憑借單次對焦即可測量大型表面的能力使AMP成為檢測復(fù)雜形狀啸盏、大型光滑表面零件的理想工具。只需輕輕一按骑祟，就可獲取半米視場范圍內(nèi)物體的詳細(xì)圖像回懦。最佳用于質(zhì)量檢測、逆向工程以及快速制造等領(lǐng)域次企。

　　法如科技首席執(zhí)行官 Jay Freeland 說道：“我們非常高興看到這項新技術(shù)已運(yùn)用到我們的便攜式測量和成像解決方案中怯晕。但是潜圃，更加令人感到驚喜的是，我們可以以此向用戶提供真正高性價比舟茶、易于使用的零件和工裝模具數(shù)據(jù)采集解決方案谭期。AMP 作為一種高端的三維測量解決方案，使我們可以繼續(xù)幫助客戶使用高端科技以使其產(chǎn)品和生產(chǎn)工藝更高效吧凉∷沓觯”

　　另外，AMP還可測量普通光學(xué)系統(tǒng)無法檢測的暗光和亮光零件客燕。AMP以其卓越的便攜式設(shè)計鸳劳，出眾的可靠性狰贯，以及優(yōu)秀的熱補(bǔ)償穩(wěn)定性张鸟，定是生產(chǎn)車間或組裝生產(chǎn)線的不二之選。

　　高科技是保證AMP具備高精度的關(guān)鍵吼闽，即：云紋干涉測量法（Accordion Fringe Interferometry牌度，AFI）。法如科技三維測量產(chǎn)品管理部主任 Chuck Pfeffer 這樣說道：“AFI 利用激光產(chǎn)生無限聚焦的條紋圖形驱香，投射到零件上揖蜒。當(dāng)AMP內(nèi)的高分辨率相機(jī)捕捉到條紋時，即可創(chuàng)建高度精確的點(diǎn)云示奉，憑借點(diǎn)云對視場中的零部件進(jìn)行真實(shí)成像升诡。正是這些條紋的精度令A(yù)MP脫穎而出』事粒”

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