為測(cè)量任務(wù)選擇合適的探測(cè)系統(tǒng)并不總是一件容易的事胶僵。為獲得有效的投資回報(bào)风宁，最好的方式是從確定工件所需的應(yīng)用球恤、靈活性和測(cè)量范圍開始哀九。

　　選擇測(cè)頭的幾點(diǎn)考慮：

　　1. 在可以應(yīng)用接觸式測(cè)頭的情況下剿配，慎選非接觸式測(cè)頭；

　　2. 在只測(cè)尺寸勾栗、位置要素的情況下盡量選接觸式觸發(fā)測(cè)頭惨篱；

　　3. 考慮成本又能滿足要求的情況下，盡量選接觸式觸發(fā)測(cè)頭幌侧；

　　4. 對(duì)形狀及輪廓精度要求較高的情況下選用掃描測(cè)頭令掠；

　　5. 掃描測(cè)頭應(yīng)當(dāng)可以對(duì)離散點(diǎn)進(jìn)行測(cè)量；考慮掃描測(cè)頭與觸發(fā)測(cè)頭的互換性(一般用通用測(cè)座來(lái)達(dá)到)整栏；

　　6. 易變形零件辫扯、精度不高零件橡周、要求超大量數(shù)據(jù)零件的測(cè)量，可以考慮采用非接觸式測(cè)頭侄突；

　　7. 要考慮軟件膊向、附加硬件(如測(cè)頭控制器、電纜)的配套涎狐。

　　1. 選用觸發(fā)測(cè)頭的場(chǎng)合

　　當(dāng)零件所被關(guān)注的是尺寸(如小的螺紋底孔)糙娃、間距或位置，而并不強(qiáng)調(diào)其形狀誤差(如定位銷孔)赐汤，或你確信你所用的加工設(shè)備有能力加工出形狀足夠好的零件憎抡，而注意力主要放在尺寸和位置精度時(shí)，接觸式觸發(fā)測(cè)量是合適的刨紊，特別是對(duì)于離散點(diǎn)的測(cè)量性湿。

　　觸發(fā)式測(cè)頭測(cè)尺寸、間距或位置比掃描測(cè)頭快满败，觸發(fā)測(cè)頭體積較小肤频，當(dāng)測(cè)量空間狹窄時(shí)測(cè)頭易于接近零件。

　　一般來(lái)講觸發(fā)式測(cè)頭使用及維修成本較低算墨；在機(jī)械工業(yè)中有大量的幾何量測(cè)量宵荒，所關(guān)注的僅是零件的尺寸及位置，所以目前市場(chǎng)上的大部分測(cè)量機(jī)净嘀，特別是中等精度測(cè)量機(jī)骇扇，仍然使用接觸式觸發(fā)測(cè)頭。

　　2. 選用掃描測(cè)頭的場(chǎng)合

　　應(yīng)用于有形狀要求的零件和輪廓的測(cè)量：掃描方式測(cè)量的主要優(yōu)點(diǎn)在于能高速的采集數(shù)據(jù)面粮，這些數(shù)據(jù)不僅可以用來(lái)確定零件的尺寸及位置少孝，更重要的是能用眾多的點(diǎn)來(lái)精確的描述形狀、輪廓熬苍，這特別適用于對(duì)形狀稍走、輪廓有嚴(yán)格要求的零件，該零件形狀直接影響零件的性能(如葉片柴底、橢圓活塞等)现辰；也適用于你不能確信你所用的加工設(shè)備能加工出形狀足夠好的零件，而形狀誤差成為主要問(wèn)題時(shí)的情況牺闪。

　　高精度測(cè)量：由于掃描測(cè)頭對(duì)離散點(diǎn)測(cè)量是勻速或恒測(cè)力采點(diǎn)托捆，其測(cè)點(diǎn)精度可以更高。

　　同時(shí)扼漓，掃描測(cè)頭可以直接判斷接觸點(diǎn)的法矢媒卑，對(duì)于要求嚴(yán)格定位、定向測(cè)量的場(chǎng)合醒屠，掃描測(cè)頭對(duì)離散點(diǎn)的測(cè)量也具有優(yōu)勢(shì)经馍。

　　對(duì)于未知曲面的掃描切锈，亦即稱為數(shù)字化的場(chǎng)合下，掃描測(cè)頭顯示出了它的獨(dú)特優(yōu)勢(shì)：因?yàn)閿?shù)字化工作方式時(shí)父绿，需要大量的點(diǎn)尿旅，觸發(fā)式測(cè)頭的采點(diǎn)方式顯得太慢；由于是未知曲面畅廷，測(cè)量機(jī)運(yùn)動(dòng)的控制方式亦不一樣捕阅，即在“探索方式”下工作；測(cè)量機(jī)根據(jù)巳運(yùn)動(dòng)的軌跡來(lái)計(jì)算下一步運(yùn)動(dòng)的軌跡麸塞、計(jì)算采點(diǎn)密度等疟位。

　　3. 使用接觸式測(cè)頭和非接觸式測(cè)頭的場(chǎng)合

　　非接觸測(cè)頭的特點(diǎn)：非接觸測(cè)頭沒(méi)有測(cè)量力，適于柔軟物體喘垂；非接觸式測(cè)頭取樣率高，在50 次/秒到23000 次/秒之間绍撞，適于表面形狀復(fù)雜正勒，精度要求不特別高的未知曲面，例如汽車傻铣、家電的木模章贞、泥模等。但非接觸測(cè)頭由于受物體表面特性(顏色非洲、光度鸭限、粗糙度、形狀等)的影響較大两踏，目前在大多數(shù)情況下败京，示值誤差比接觸式測(cè)頭要大，保持在10 微米級(jí)以上梦染。同時(shí)冒侧，非接觸測(cè)頭的價(jià)格一般較貴。

　　選用非接觸式測(cè)頭的原則是：

　　在可以應(yīng)用接觸式測(cè)頭的情況下抄刁，慎選非接觸式測(cè)頭阿赞；在只測(cè)尺寸、位置要素的情況下盡量選接觸式觸發(fā)測(cè)頭祈哆；考慮成本又能滿足要求的情況下漩跋，盡量選接觸式觸發(fā)測(cè)頭；易變形零件帆速、精度不高零件阁檀、要求超大量數(shù)據(jù)零件的測(cè)量，可以考慮采用非接觸式測(cè)頭互愚；要考慮軟件声屯、附加硬件(如測(cè)頭控制器惫饲、電纜)的配套。

　　4. 掃描測(cè)頭的優(yōu)勢(shì)及劣勢(shì)

　　優(yōu)勢(shì)：

　　1去园、適于形狀及輪廓測(cè)量裤础；

　　2、高的采點(diǎn)率蜓谋；

　　3梦皮、高密度采點(diǎn)保證了良好的重復(fù)性、再現(xiàn)性桃焕；

　　4剑肯、更高級(jí)的數(shù)據(jù)處理能力。

　　劣勢(shì)：

　　1观堂、比觸發(fā)測(cè)頭復(fù)雜让网；

　　2、對(duì)離散點(diǎn)的測(cè)量較觸發(fā)測(cè)頭為慢师痕；

　　3溃睹、高速掃描時(shí)由于加速度而引起的動(dòng)態(tài)誤差很大，不可忽略胰坟，必須加以補(bǔ)償因篇；

　　4、針尖的磨損必須注意笔横。

　　5. 觸發(fā)測(cè)頭的優(yōu)勢(shì)及劣勢(shì)

　　優(yōu)勢(shì)：

　　1竞滓、適于空間箱體類工件及巳知表面的測(cè)量；

　　2要茴、通用性強(qiáng)瞧佃；

　　3、有多種不同類型的觸發(fā)測(cè)頭及附件供采用携侮； 　

　　4演茂、采購(gòu)及運(yùn)行成本低；

　　5沿硕、應(yīng)用簡(jiǎn)單件银；

　　6、適用于尺寸測(cè)量及在線應(yīng)用依特；

　　7郊片、堅(jiān)固耐用；

　　8契畔、體積小焚惰，易于在窄小空間應(yīng)用

　　9、由于測(cè)點(diǎn)時(shí)測(cè)量機(jī)處于勻速直線低速狀態(tài)课丢，測(cè)量機(jī)的動(dòng)態(tài)性能對(duì)測(cè)量精度影響較小蛆存。

　　劣勢(shì)：測(cè)量取點(diǎn)率低步氏。

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