O-INSPECT應用于真正三維測量的絕佳光學與接觸式測量技術
應用于O-INSPECT中的每個組件皆體現(xiàn)了頂級的性能表現(xiàn),完美的結合確保了最佳的效率兑蹦。各類檢測任務可于同一機器中實現(xiàn)及完成颗蝶,基于O-INSPECT可省卻多次不必要的重復檢測,更重要的是寺晌,O-INSPECT簡易世吨、一致的操作理念可大大降低培訓要求。
高端光學元件
·Discovery telecentric呻征,卡爾-蔡司12倍變焦鏡頭
·CCD 攝像芯片
·照明單元:環(huán)形光耘婚,微形環(huán)形光,同軸光怕犁,激光導航及透射線边篮。
·外部光源屏蔽裝置
·選配共聚焦白光傳感器實現(xiàn)快速三維曲面數(shù)據(jù)采集
配備三維連續(xù)掃描功能的接觸式測量系統(tǒng)
·VAST XXT掃描測頭系統(tǒng)適用于單點觸測與掃描測量
·CNC自動化測針更換
智能設計
·配備固定橋框及移動式測量平臺的橋式測量機
·多方位應用空間
·支持與夾具系統(tǒng)直接對接
·快速庫位配置
·選配轉臺實現(xiàn)回轉對稱及柱體工件的快速測量
速度與精度
·高動態(tài)驅動技術
·自動驅動監(jiān)控
·所有的行程軸使用精密滾珠軸承
·導軌誤差補償(CAA計算機輔助精度修正)
適用于車間應用
·全封閉導軌
·集成減振系統(tǒng)
軟件界面友好
·基于CALYPSO對測量過程實現(xiàn)實時控制與評估
·測量程序,測量實際值及偏差體現(xiàn)于同一視圖中奏甫。
O-INSPECT具有高靈活性的特殊優(yōu)勢
接觸式測量 光學式測量
·如若該特性無法以光學獲取數(shù)據(jù)時戈轿, ·當必須檢測特別微細的結構時
例如,相關結構被遮擋阵子∷急 ·當接觸方式會使被測材料變形時
·實現(xiàn)三維實體尺寸的精確測量 ·當測量速度很重要時
四合一功能
卡爾-蔡司O-INSPECT完美結合了速度,頂級光學傳感器的高分辨率及接觸式測量系統(tǒng)的三維探測功能挠进。
迄今為止色乾,O-INSPECT實現(xiàn)了四類獨立的測量系統(tǒng)功能:顯微鏡、投影儀皇驼、坐標測量機與輪廓測量儀圾框。O-INSPECT實現(xiàn)了一臺設備一次設定即可完成全部的測量任務及方案。
多功能性使得O-INSPECT成為醫(yī)療技術畦怒、塑料技術残团、電子與精密工程領域的理想檢測方案。由于應用了密閉式導軌及集成了減震系統(tǒng)桶邑,O-INSPECT可直接于車間內(nèi)應用画眯。
投影儀 坐標測量儀 輪廓測量儀 顯微鏡
O-INSPECT 的光學系統(tǒng)
光學測量技術僅受特性的視覺識別程度所影響。這取決于多種因素:
·零件自身务囤、其形狀灌当、顏色和表面質量
·光學檢測系統(tǒng)的質量
·照明
O-INSPECT奠定了光學測量的基礎:基于多功能與柔性的Discovery鏡頭,合適的照明系統(tǒng)及共聚焦白光傳感器幅挂。換而言之京球,O-INSPECT體現(xiàn)了卡爾-蔡司高品質光學專業(yè)技藝。
Discovery 12x 變焦鏡頭
區(qū)別于行業(yè)內(nèi)制造商普遍應用多個定焦鏡頭现蹂,O-INSPECT變焦鏡頭提供多達十種放大倍數(shù)可供自由選擇與切換筏拢,其優(yōu)點在于:由于無需更換鏡頭术陶,使得測量速度更快,各類放大倍數(shù)條件下均可保證最佳的重復再現(xiàn)性煤痕。與此同時梧宫,對于照明光強與聚焦技術Discovery亦體現(xiàn)了無可比擬之優(yōu)勢。
遠心技術與照明光強
應用于測量技術的理想鏡光須滿足兩個條件:
基于與被測對象距離非相關的遠心鏡頭技術摆碉,同時確保于任何放大倍數(shù)條件下均可獲取清晰及精準的圖像特性塘匣。傳統(tǒng)的遠心鏡頭通常功能有限,其Z向探測精度較低巷帝。Discovery不同之處在于忌卤,作為絕對遠心技術,處于光強重要性略低的中間倍率等級上楞泼。
可選配共聚焦白光傳感器
對于非接觸三維微細結構的高效測量驰徊,推薦選用白光傳感器,該傳感器基于色階共聚焦原理堕阔,其優(yōu)點在于無需移動任何機械組件即可實現(xiàn)深度數(shù)據(jù)的快速采集棍厂。
適用于平滑及無光澤表面
白光傳感器可用于測量反光或透明的對象,例如:玻璃超陆,亦可檢測高吸收率牺弹,無光澤表面。
金屬容器的拐彎位置 金屬工件
羅紋結構側視圖 塑料外罩
照明系統(tǒng)
光學測量基于灰度值分析識別技術战架,對比度與邊緣的識別率越高砸新,則可獲取更精確的測量值。理想的照明類別取決于被測零件或特性:軸向或側向照明咸壮、垂直或傾斜的照明角度拿奥,亦或由底部進行照明。O-INSPECT配備全面的照明單元確保其適用于所有的測量任務漆究。
同軸光照明 軸向激光導航 環(huán)形光照明
大型環(huán)形燈码遥、白光傳感器
用于側向照明的大功率環(huán)形光
大功率環(huán)形照明提供全方位的側向照明,實現(xiàn)三維特征的更強對比碗冈,八段環(huán)形紅光與藍光均可自由調(diào)節(jié)及支持CNC模式下自動開閉,顏色選擇功能對于彩色工件而言極其重要滤灸。
更深照明角度的微型環(huán)形光
微型環(huán)形光包含四段藍色及四段紅色LED怪褐,配合中心均布改善深層特征的識別能力。
同軸光照明
同軸光以直角垂直照射于工件翁旁,對于深孔而言蝠欲,為尺寸及形位公差的重要照明光源。
軸向激光導航
鏡頭中心的激光功能可大大簡化編程過程的導航定位倦微。
透射光
透射光提供最佳的對比度妻味,用以測量開口或外邊緣正压,例如測量沖壓件或結構復雜的微細工件。
業(yè)界真正意義的掃描測量系統(tǒng)
O-INSPECT配備靈活责球,快速及高精度的VAST XXT三維連續(xù)掃描測頭焦履,不僅可實現(xiàn)單點觸測,更可高效精確測量各類形狀誤差雏逾。
VAST XXT支持30-125 mm測針嘉裤,可實現(xiàn)深孔的快捷測量,40 mm的側向測針可確保最佳的柔性栖博,VAST XXT甚至可在不更換測針的條件下實現(xiàn)復雜工件快速測量屑宠。
接觸式掃描測頭與光學傳感器快捷自動切換
O-INSPECT支持CNC運行中的測頭自動切換,甚至于一個檢測元素中亦可實現(xiàn)仇让。即便手動切換典奉,該測針亦可自動識別,無需耗時的重復校準丧叽。
測針庫位架 基于掃描技術的平面度檢測
眼見為實—— CALYPSO 可視化功能
O-INSPECT與CALYPSO測量軟件提供全新的可視化功能卫玖,可于同一視圖中同時顯示視像,CAD模型及測量值肢姜,同時可查看實際狀態(tài)主渤,理論狀態(tài)及偏差,更快捷詮釋測量結果驰闺。
人人都會用的最佳軟件
O-INSPECT結合高品質的測量軟件平臺體現(xiàn)更多的優(yōu)勢瘪叉,通過CALYPSO軟件同時實現(xiàn)與其他蔡司測量機的程序共享,CALYPSO為廣泛的應用領域提供了通用呕豪,直觀的操作理念药扒。因此,CALYPSO可確迸吹担快速隙殴,簡便地以同一測量策略完成所有的測量任務。
CAD 表面模型和攝像圖像蜡幼、CAD 線條模型和攝像圖像掷栋、一個視圖同時展現(xiàn)CAD模型、攝像圖像嗓万、測量策略與偏差信息邦鲫。
夾具裝載系統(tǒng)
O-INSPECT夾具裝載系統(tǒng)可于機器外圍進行工件裝夾準備,優(yōu)勢在于可最大化減少占用機器的時間神汹,該夾具裝載系統(tǒng)支持所有的測量策略:單傳感器或復合式測量庆捺,以最大化發(fā)揮傳感器的利用率。
承重平板
承重平板的三個承載元件安裝于設備平臺上屁魏,安裝簡易并可由客戶自行完成滔以。承重平板提供庫位架快速接口捉腥,同時在設計階段即充分考慮了最小的使用高度。
支撐框架
支撐框架是玻璃平板及三明治孔板的理想基座你画,可放置于三個承重元件上方抵碟,通過兩個調(diào)節(jié)螺栓可于XZ及YZ方向上進行調(diào)節(jié),通過整體框架結構可實現(xiàn)工件的快捷組合撬即。
玻璃平板
玻璃平板用于反射及透射光學測量立磁,更重要的是簡化了任意形狀樣品的測量,并可將樣品放置于安裝座與玻璃平板之間剥槐,例如唱歧,可以最少的工作量完成墊片的水平找正。
三明治孔板
高耐磨硬質陽極氧化處理鋁合金技術支持所有的接觸與反射光條件下的光學測量助潭,此三明治孔板用于CARFIT CMK夾具組件烙凝,整個框架結構或三明治孔板可靈活切換以更換工件。
多傳感器檢測
多傳感器檢測配合通用校準標件與相關控制及評估軟件打且,可監(jiān)控配備接觸式或光學傳感器的坐標測量機宠录。
應用
關于根據(jù) DIN EN ISO 10360 和 VDI/VDE 2617 對坐標測量設備的檢測:
根據(jù)DIN ISO 10360與VDI/VDE 2617對坐標測量機驗收。
測頭系統(tǒng)的探測誤差
·測頭系統(tǒng)的掃描誤差
·長度測量示值誤差
·基于接觸式與光學方式對探測誤差與長度測量示值誤差驗收
標樣說明
標樣主體采用耐變形基體與高精密標準件帘战。
·用于接觸式測量與光學測量的特殊調(diào)節(jié)環(huán)規(guī)祸麸,直徑16mm.
·一個精密的陶瓷球體,直徑 25mm
·兩個塊規(guī)斑永,長度分別為50mm與200mm
·一根200mm長玻璃線紋尺
試件的標定
DKD(德國校準服務)校準:
·調(diào)節(jié)環(huán)規(guī)
·精密球體
·兩個塊規(guī)
·玻璃線紋尺
軟件
CALYPSO坐標測量機控制與評估軟件:
·自動化測量運行
·符合標準的評估
·根據(jù)監(jiān)控系數(shù)對測量結果進行附加分析椭斜。
·測量結果的統(tǒng)計分析
用戶支持
可根據(jù)要求提供標樣的安裝與培訓。
可選配轉臺
用于全方位的光學測量
O-INSPECT配備可編程轉臺實現(xiàn)轉動的條件下測量所有側面上的各個特性蛀埂。
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