求知欲促使我們以任何能想到的方式去探索事物的本質(zhì)郎博。我們通過觀測來揭示周邊的世界，并不斷追求技術(shù)改進(jìn)。功夫不負(fù)有心人胰伍，蔡司又一次將X射線顯微鏡檢測技術(shù)提升到了新的高度，我們現(xiàn)在可以用它來做到這一點(diǎn)酸休。

鋰離子電池概覽掃描

我們現(xiàn)在無需切開蘋果骂租，就可以測量蘋果籽的大小祷杈，還可以查看運(yùn)行中的電池的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。這聽起來像是魔法一般渗饮，但它實(shí)際上是一種名為RaaD能力（遠(yuǎn)距離分辨率）的先進(jìn)分析技術(shù)但汞，多應(yīng)用于先進(jìn)的X射線顯微鏡中。它可以實(shí)現(xiàn)無失真成像互站，即被照亮的標(biāo)本保持完整私蕾，而且無需前期的諸多準(zhǔn)備工作。由此一來胡桃，研究人員和開發(fā)人員便可以在受控條件下獲得材料微觀結(jié)構(gòu)的三維圖像踩叭，并實(shí)時看到熱、張力和壓力的影響——也就是所謂的原位成像昵裁。

克服X射線計(jì)算機(jī)斷層掃描中的障礙

盡管X射線計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù)已經(jīng)取得了很大的進(jìn)步锋辩，但它仍然面臨著一個重大的挑戰(zhàn)：即使是在樣本尺寸較大的情況下，也必須保證X射線圖像的分辨率祈痢，以便與X射線源保持更大的距離叽燃。因此，X射線顯微鏡即使在遠(yuǎn)距離上也必須實(shí)現(xiàn)速度快姚菱、對比度強(qiáng)校惧、分辨率高的目標(biāo)。

ZEISS Xradia X 射線顯微鏡的RaaD功能已經(jīng)給客戶留下了深刻的印象惜荐，并被全球頂尖的研究人員和科學(xué)家所使用拓肉。但為了滿足對更高的速度、分辨率和對比度不斷增長的需求用缔，并繼續(xù)克服3D成像方面的阻礙瘩朋，蔡司專家于2019年1月推出了下一代X射線顯微鏡——ZEISS Xradia 600系列。由于其真正的空間分辨率為500納米赠粘，體素大小為40納米券亚，并增加了X射線源的功率，所以在研發(fā)領(lǐng)域校摩，ZEISS Xradia 610 和 620 Versa在提升X射線成像速度的同時看峻，并沒有以犧牲亞微米級高分辨率為代價(jià)。

這一突破通過高性能的25瓦X射線源實(shí)現(xiàn)衙吩，它的處理量比前幾代更高．但由于加強(qiáng)了熱管理互妓，分辨率并未受到影響。此外坤塞，新的X射線源控制系統(tǒng)大大縮短了響應(yīng)時間冯勉。掃描更快、試驗(yàn)數(shù)量更多、對比度更高——即使看起來像魔術(shù)一般灼狰，但它仍然有進(jìn)一步改進(jìn)的空間宛瞄。

高分辨率還要高速度——為什么不能兩者兼得？

ZEISS Xradia Versa X射線顯微鏡避開了傳統(tǒng)X射線計(jì)算機(jī)斷層掃描面臨的典型難題：雖然高能量的X射線使掃描速度更快交胚，但這樣卻會對圖像分辨率產(chǎn)生負(fù)面影響份汗。此外，如果想要使用這些基于項(xiàng)目的傳統(tǒng)X射線顯微鏡來獲得更高的分辨率必須使樣品盡可能靠近輻射源蝴簇，而這便會不可避免地限制適用物體的尺寸伤刑。ZEISS Xradia 600系列成功消除了這些限制性因素。它將高性能X射線源連接到獨(dú)特的兩級放大光學(xué)系統(tǒng)伸危，可以生成亞微米范圍內(nèi)的高分辨率圖像殊馋，樣本大小和類型的范圍都很廣，而且速度也很快欺邻∴鸵ǎ可選的平板探測器( FPX)可用于分析重達(dá) 25 公斤的樣品。

為用戶帶來無與倫比的靈活性

蔡司工業(yè)顯微鏡解決方案主管 Robert Zarnettat 博士說：“Xradia 600 Versa X射線顯微鏡為用戶提供了非常高的靈活性橘抵」ど保”小樣本，高分辨率——或大樣本甲脚，低分辨率：不再是兩難的選擇估裁。”無論是在電子和半導(dǎo)體行業(yè)帽拘、增材制造吠谐、原材料行業(yè)還是醫(yī)療技術(shù)領(lǐng)域，ZEISS Xradia 600 Versa X射線顯微鏡都能通過三維測量深入揭示物體的內(nèi)部特征坡疼，并為這一過程增加了一個新維度——時間維度彬呻。由此，原材料生產(chǎn)商和材料科學(xué)家能夠了解其產(chǎn)品在不同條件下如何正確地發(fā)揮作用柄瑰。與所有蔡司X射線顯微鏡一樣闸氮，新一代X射線顯微鏡也會不斷升級更新。這樣教沾，蔡司便可以確逼芽纾客戶在當(dāng)前和未來都能揭示事物真實(shí)的特征。

（蔡司工業(yè)測量 蔡司工業(yè)質(zhì)量解決方案）

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