蔡司 x射線系列 見所末見
在渴望深入探究事物本質(zhì)的驅(qū)使下,人類在科學(xué)研究領(lǐng)域中不斷向前邁進。多年來,蔡司 x射線技術(shù)為各領(lǐng)域提供了理想的洞察力。在質(zhì)量及過程控制方面,不需破壞工件,x 射線技術(shù)可檢測到即便敏銳雙眼也無法發(fā)現(xiàn)的隱藏缺陷。
兩個工件中僅一個內(nèi)部沒有缺陷廊畔。
別猜了,x-ray 它
蔡司 x-ray,見所末見
蔡司 x 射線系列助您解開謎團
蔡司 x 射線解決方案讓暗藏的缺陷如今無所遁形, 此缺陷可導(dǎo)致產(chǎn)品召回,并造成巨大損失。
此缺陷可導(dǎo)致產(chǎn)品召回,并造成巨大損失脖煮。
您真的想要冒此風(fēng)險嗎?
x 射線技術(shù)為發(fā)現(xiàn)暗藏的缺陷提供了全新的洞察力贬奢。
您可以快速無損地采集、分析蜀骗、測量及檢測工件內(nèi)部結(jié)構(gòu)悦追。
揭露工件隱藏的秘密
x 射線技術(shù)為發(fā)現(xiàn)暗藏的缺陷提供了全新的洞察力。
您可以快速無損地采集怒详、分析炉媒、測量及檢測工件內(nèi)部結(jié)構(gòu)。
細節(jié)及數(shù)據(jù)
技術(shù)優(yōu)勢
x 射線檢測技術(shù)可讓缺陷無所遁形,不僅為質(zhì)量管控開辟了全新的可能性,且為用戶帶來顯著的額外收益昆烁。
? 一次掃描 - 充分確定:可測量吊骤、分析及檢測出三坐標(biāo)測量機無
法檢測的隱藏缺陷及內(nèi)部結(jié)構(gòu)。
? x 射線檢測技術(shù)實現(xiàn)無損洞悉工件內(nèi)部結(jié)構(gòu)
? 無需復(fù)雜夾具,時間及費用節(jié)省
? 借助 x 射線斷層檢查儀(工業(yè)CT)可掃描所有內(nèi)外部結(jié)構(gòu),即 便無 CAD 模型,也可復(fù)制工件静尼。
物有所值的投資
12個月內(nèi) 收回投資
在鋁鑄件生產(chǎn)過程中,于鑄造工序后對工件進行徹底檢測非常關(guān)鍵白粉。如待到生產(chǎn)后期方檢測到缺陷,則將造成高昂的損失。而選擇自動化在線檢測解決方案,您在12個月內(nèi)即可獲得投資回報鼠渺。
節(jié)省時間 30 至70%
模具生產(chǎn)的成本投入很高,原因在于通常需要經(jīng)過多次修模循環(huán)周期, 直至模具得到優(yōu)化調(diào)整以及理想成型鸭巴。借助 x 射線斷層檢查儀 (工業(yè)CT) 與蔡司逆向工程(zRE)軟件來采集 3D 模型的各種結(jié)構(gòu)特征 , 可有效改 善修模流程,縮減 30% 到 70% 的時間,從而顯著降低模具成本。
工件準(zhǔn)備時間縮減達 80%
工件準(zhǔn)備相對耗時,因此,縮減不同掃描任務(wù)之間的工件準(zhǔn)備時間尤為 關(guān)鍵拦盹。 zElSS FixAssisto CT 機外預(yù)調(diào)系統(tǒng)可幫助提升 x 射線斷層檢查 儀(工業(yè)CT)的利用率,讓您的質(zhì)保流程更加高效鹃祖。該附件可將工件準(zhǔn) 備調(diào)整時間縮短達 80%。而且:四個月內(nèi)即可獲得投資回報普舆。
應(yīng)用
細節(jié)洞悉
測量
汽車恬口、航空航天、醫(yī)療技術(shù)速痹、電子裂蝉、消費品等各行業(yè)皆有其制造流程,往往會出現(xiàn)肉眼無法察覺的各類潛 在缺陷绳练。x 射線檢測技術(shù)開辟了全新的應(yīng)用潛能,從內(nèi)部缺陷檢測、內(nèi)部結(jié)構(gòu)尺寸測量 , 到材料結(jié)構(gòu)分析虑庇。
數(shù)模比對 (公稱值/實際值比較)與 CAD 模型或者主件的偏差可 通過色差比對的形式進行可視化枫昏。
尺寸測量
一次 CT 掃描即可實現(xiàn)復(fù)雜內(nèi)外結(jié)構(gòu)特征的尺寸測量精度。
壁厚分析
通過色彩標(biāo)識表征內(nèi)部結(jié)構(gòu)的厚度光丢。
模具及過程優(yōu)化
全方位的工件檢測為模具及生產(chǎn)流程提供了有價值的數(shù)據(jù)旋蝎。
研發(fā)與逆向工程
借助 3D 體積數(shù)據(jù) , 可輕松創(chuàng)建 CAD 模型,從而大幅加快產(chǎn)品研發(fā)與逆向工程的效率。
檢測
缺陷分析
快捷探測縮孔镰掐、氣孔 碗履、 裂紋及其它缺陷。
裝配控制
檢查裝配件的功能及組裝狀態(tài)蝗质。
連接技術(shù)控制
一次掃描可檢測焊接、熔接齐秕、粘合或鉚接是否無瑕疵沈机。
電子元件測試
電子元件例如電路板或電池通過 x 射線檢測實現(xiàn)缺陷快速可視化。
分析
結(jié)構(gòu)分析
借助于高分辨率 x 射線顯微鏡 實現(xiàn)良好的 3D 結(jié)構(gòu)特征呈現(xiàn)笋敞。
原位及 4D 分析
分析材料在外界影響及隨時間推移的表現(xiàn)碱蒙。
表面紋理分析
分析內(nèi)外結(jié)構(gòu)的表面紋理。
纖維復(fù)合材料分析
清晰觀測復(fù)合材料中不同元素的 3D 分布及方向夯巷。
顆料尺寸及分布分析
顆粒尺寸及分布與材料硬度及強度相關(guān)赛惩。
見所未見
蔡司 x 射線系列
客戶及其應(yīng)用是蔡司關(guān)注的重點。為此,我們不僅提供硬件,更提供周全的解決方案,旨在更好地滿足客戶的需求趁餐。其包括硬件系統(tǒng)喷兼、軟件、附件及服務(wù),可根據(jù)用戶需求量身定制,蔡司讓這一切成為了可能后雷。
軟件
除了值得信賴的 GOM Volume lnspect 軟件之外, 蔡司還有其他理想的軟件解決方案供您選擇季惯。例如 : 可利用 zElSS METROTOM OS 對 3D 數(shù)據(jù)進行
采集及后處理 , 借助 zElSS Piweb 匯總及獲取質(zhì) 量數(shù)據(jù)報告。
圖像采集
圖像評定
數(shù)據(jù)管理及工業(yè)4.0
系統(tǒng)
蔡司擁有高精度工業(yè) CT臀突、自動 2D 與 3D x 射線檢測系統(tǒng)以及高分辨率 3D x 射線顯微鏡, 無論您需要的是高精度測量勉抓、快速檢測還是納米級分析,蔡司皆可為您的應(yīng)用提供合適的解決方案。
2D x 射線檢測系統(tǒng)
X 射線斷層檢查儀(工業(yè) CT)
X射線顯微鏡
應(yīng)用
各行業(yè)及應(yīng)用皆面臨著需克服的挑戰(zhàn)候学。擁有豐富的 x 射線領(lǐng)域技術(shù),我們熟知您面臨的難題,并將運 用我們的專業(yè)知識及解決方案為您提供支持藕筋。
電池
葉片
電子
油氣
塑料
復(fù)合材料
多材料工件 裝配
材料研究
生命科學(xué)
服務(wù)
借助蔡司質(zhì)量中心的 x 射線掃描服務(wù),即便暫無自己的x 射線系統(tǒng),也可對工件進行 x 射線檢測。您可以親身體驗蔡司 x 射線檢測技術(shù)的優(yōu)勢,而無需承擔(dān)風(fēng)險呕摹。
附件
我們?yōu)槟峁┝嗽S多其他選項,保障您可以充分利 用硬件解決方案蒂抒。zElSS FixAssisto CT 可以將設(shè)置 時間縮短 80%,從而幫助您提高生產(chǎn)效率。
蔡司 x 射線系統(tǒng)概覽
高精度測量及檢測
METROTOM 1
METROTOM 800 130 kV
METROTOM 6 scout
METROTOM 800 225 kV (HR)
METROTOM 1500
快速及自動化的 3D 檢測與測量
高分辨率分析及檢測
Xradia 810 & 825 Synchrotron
Xradia 800 & 810 Ultra
Xradia 610 & 620 Versa
Xradia 510 Versa
Xradia 410 Versa
Xradia Context microCT
BOSELLO WRE thunder
BOSELLO OMNIA BOSELLO MAX
BOSELLO HEX
快速及自動化的 2D 檢測
聯(lián)通高效
靈活,面向末來的解決方案
欲了解更多信息,請訪問:www.zeiss.com/metrology/x-ray
(蔡司工業(yè)測量)
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