光學測頭常見問題匯總
【問】光學測頭的使用趨勢?
【答】傳統(tǒng)的觸摸式三坐標丈量機自1956年面世以來,現(xiàn)已經(jīng)過了50多年的發(fā)展∮庠現(xiàn)在現(xiàn)已廣泛使用于生產(chǎn)車間及科研部門當中。隨著工業(yè)技能的不斷進步认吕,對丈量設備的各方面要求也不斷進步煮沸,三坐標丈量機在此過程中也閱歷了無數(shù)次的技能創(chuàng)新以習慣更高的丈量要求。盡管如此沼昵,當今三坐標丈量機依然在某些方面遇到了一定的技能瓶頸腾枣。這些瓶頸的發(fā)生不能簡略地歸結(jié)于技能創(chuàng)新的不足,其主因在于觸摸式三坐標丈量機的硬件結(jié)構(gòu)和丈量原理上的約束极金。成像亮度計
傳統(tǒng)三坐標丈量機裝備最多的是觸發(fā)式測頭跨跨,用觸發(fā)式測頭丈量物體時,測針以一定速度觸摸物體外表囱皿,然后使測針的方位發(fā)生偏離勇婴,發(fā)生的電信號觸發(fā)測頭記載一個物體外表測點的空間坐標。由此帶來的第一個問題就是丈量速度較慢嘱腥。其原因在于耕渴,首要觸發(fā)式測頭的采點方法對錯接連的,測頭在一次采點完成后需退回一段距離齿兔,讓測針歸位后才干進行第2次采點橱脸。而且采點時觸摸物體外表的速度不能太快,若測針觸摸物體速度過快使得測針的方位偏離過大分苇,則信號會被認為是發(fā)生了磕碰而采點失敗添诉。出于這個原因可以用掃描式測頭代替觸發(fā)式測頭,掃描式測頭采用的是接連采點方法,因而采點速度得到較大進步栏赴。約束丈量速度的第二個原因在于蘑斧,假如被測物體具有比較復雜的幾何形狀,那么測針需要變換若干次指向才干完成整個丈量卢操,并且測針的每個指向需進行標定锌褒。假如要克服這一不足,然后進一步進步丈量速度的話绍堪,需要給三坐標丈量機裝備高端的多軸旋轉(zhuǎn)掃描測頭,該項新技能可以以接連方法高速掃描物體進行采點坝总。成像亮度計
觸摸式丈量所用的測針尖端一般為紅寶石球璃疫,測頭采點所得的空間坐標為紅寶石球的球心方位。而測針與物體外表的實踐觸摸方位并非球心兆距,所以物點的坐標必須依據(jù)紅寶石球的半徑進行補償窖韧。由此帶來了觸摸式丈量的第二個問題,即紅寶石球的半徑補償方向過錯乏尿。當被測幾何特征較小直徑《 1mm且采點密度較大時姐蝠,采得點的次序會發(fā)生紊亂,然后使球半徑補償方向發(fā)生過錯迂擅,造成獲得的幾何特征與實踐不符幕柬。
【問】三坐標測量機采用非接觸式光學測頭有哪些優(yōu)缺點?
【答】優(yōu)點:極高的掃描速度症丁,無接觸力因而可以測量柔軟表面(譬如橡膠零件)
缺點:精度不如接觸式拆内,價格也較高。
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