整體葉盤(pán)/葉輪是新一代航空發(fā)動(dòng)機(jī)實(shí)現(xiàn)結(jié)構(gòu)創(chuàng)新和技術(shù)跨越的關(guān)鍵部件越妈，在簡(jiǎn)化航空發(fā)動(dòng)機(jī)結(jié)構(gòu)的同時(shí)，也具有加工難度大栅组、葉片薄雀瓢、扭曲度大、具有狹窄的凹腔玉掸、狹長(zhǎng)槽和很深的復(fù)雜幾何形狀等特點(diǎn)刃麸。

葉盤(pán)是航空發(fā)動(dòng)機(jī)的葉片轉(zhuǎn)子，采用整體制造技術(shù)而取代了過(guò)去多個(gè)部件的組合司浪。在歐洲泊业，葉盤(pán)所有葉片全部檢測(cè)，每個(gè)葉片需要檢測(cè)5 – 8個(gè)截面啊易，要求三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的精度為葉盤(pán)公差要求的1/10脱吱。整體葉盤(pán)/葉輪測(cè)量項(xiàng)目多，形狀復(fù)雜层筹，對(duì)測(cè)量機(jī)的精度苦频、性能、效率以及軟件評(píng)價(jià)性能提出了嚴(yán)格的要求风踪。

通過(guò)采用超高精度的Leitz測(cè)量技術(shù)梧杠，并配合以轉(zhuǎn)臺(tái)和QUINDOS軟件技術(shù)，海克斯康計(jì)量為業(yè)界提供了完美的四軸葉盤(pán)/葉輪檢測(cè)方案啤都，實(shí)現(xiàn)了測(cè)量過(guò)程的自動(dòng)化砰穗，參數(shù)、界面的標(biāo)準(zhǔn)化溃锤，測(cè)量報(bào)告的通用化渣么。其中關(guān)鍵檢測(cè)項(xiàng)目全部采用高速四軸聯(lián)動(dòng)掃描，大幅度提高了測(cè)量效率的同時(shí)灿拗，保證了測(cè)量精度蛋鸡，圓滿(mǎn)完成葉盤(pán)的批量檢測(cè)要求。

利用掃描技術(shù)提升葉盤(pán)檢測(cè)效率

葉盤(pán)檢測(cè)的難點(diǎn)之一在于扭曲的復(fù)雜型面侍上，Leitz高速四軸掃描完美地解決了這個(gè)問(wèn)題弓候。2010年，德國(guó)Leitz推出高速四軸掃描高效智能控制柜他匪，通過(guò)四軸聯(lián)動(dòng)的連續(xù)掃描方式菇存，使得測(cè)量時(shí)間大幅降低的同時(shí)，保證了高精度與重復(fù)性邦蜜。

同時(shí)依鸥，Leitz所獨(dú)有的VHSS可變高速掃描技術(shù)，可根據(jù)零件曲率變化自動(dòng)調(diào)節(jié)掃描速度悼沈，自動(dòng)識(shí)別并刪除無(wú)效點(diǎn)毕籽，最優(yōu)化測(cè)量數(shù)據(jù)的同時(shí)保證了測(cè)量效率。利用VHSS可變高速掃描技術(shù)井辆，邊緣掃描速度達(dá)2 - 5毫米/秒, 葉盆和葉背最大掃描速度達(dá)100毫米/秒关筒。

葉輪葉片的前緣通常是一段小圓弧或者曲線(xiàn)，曲率變化較大杯缺，常規(guī)測(cè)量容易產(chǎn)生較大誤差甚至停機(jī)蒸播，為此，Leitz推出了“返回式掃描技術(shù)”解決了這個(gè)問(wèn)題萍肆。利用“返回式掃描技術(shù)”袍榆，在掃描過(guò)程中QUINDOS 7實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)測(cè)頭受力，當(dāng)測(cè)頭偏置超出公差或者工件脫離工件表面時(shí)笆犀，軟件自動(dòng)修正掃描路徑重新掃描柜步，做到測(cè)量過(guò)程中“永不停機(jī)”，并能做到無(wú)人值守的測(cè)量操作锉纹。如圖是返回式掃描和測(cè)頭偏置判斷的命令界面冲或。

I++ Simulator模擬器提供了葉盤(pán)檢測(cè)100%的脫機(jī)編程能力：

I++ simulator 是一個(gè)可以使用一臺(tái)設(shè)備進(jìn)行集中檢測(cè)編程活動(dòng)的編程工具。現(xiàn)場(chǎng)的機(jī)器（包括機(jī)器残宽，測(cè)頭腌棒，更換架，校驗(yàn)工具，轉(zhuǎn)臺(tái)隧蜀，溫度傳感器捂旨，夾具，傳送設(shè)備素矛，存儲(chǔ)托盤(pán)憨琅，辦公設(shè)備，測(cè)量實(shí)驗(yàn)室撒蟀，工廠(chǎng)等）可以用稱(chēng)作scenario(場(chǎng)景)的方法進(jìn)行仿真叙谨。這樣。一個(gè)程序可以在一個(gè)或者全部scenario中進(jìn)行編寫(xiě)和驗(yàn)證牙肝，然后分別布置到不同的制造現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行實(shí)施。

這樣嗤朴，通過(guò)脫機(jī)產(chǎn)生檢測(cè)程序配椭，整個(gè)測(cè)量過(guò)程在虛擬環(huán)境下就可以進(jìn)行編程和優(yōu)化，真實(shí)再現(xiàn)實(shí)際的測(cè)量環(huán)境雹姊，測(cè)量機(jī)只需要把主要精力用于完成實(shí)際測(cè)量工作股缸。

HP-O最新光纖探測(cè)技術(shù)

基于調(diào)頻干涉式光學(xué)測(cè)距技術(shù)，HP-O新型光纖測(cè)頭提供了與觸發(fā)式掃描測(cè)頭相媲美的精度與可靠性吱雏，同時(shí)提供了更快的掃描速度敦姻、擴(kuò)大的測(cè)量范圍，并擁有通用光學(xué)非接觸測(cè)量的優(yōu)勢(shì)歧杏。如果需要高效的掃描測(cè)量镰惦，而觸發(fā)測(cè)頭難以接近工件，或者零部件會(huì)在觸發(fā)探測(cè)過(guò)程中變形或受損犬绒，HP-O將是高精度觸發(fā)掃描的替代選擇娩伴。

相對(duì)葉盤(pán)檢測(cè)，HP-O的獨(dú)特優(yōu)勢(shì)體現(xiàn)在：

- 非接觸測(cè)量：使得零件免受任何機(jī)械損傷等吝，可避免測(cè)針磨損靠牙，同時(shí)零件不需要任何噴涂標(biāo)記。對(duì)有涂層的葉片泽中，非接觸測(cè)量能保持葉片涂層不受損傷虎疗。

- 測(cè)量點(diǎn)到測(cè)頭末端的距離多達(dá)60 mm。在檢測(cè)整體葉盤(pán)內(nèi)腔時(shí)熏虱，能夠解決接觸測(cè)頭無(wú)法達(dá)到的難題榄缸。

? 減少機(jī)械探測(cè)的局限性，實(shí)現(xiàn)高效的數(shù)據(jù)采集浓盐，提供了更快的掃描速度瞪歹。如檢測(cè)葉盤(pán)的葉尖，直接掃描全部葉片的葉尖，轉(zhuǎn)臺(tái)勻速旋轉(zhuǎn)即可蛇热。

? 空間分辨率高梗爸，完成最小細(xì)節(jié)乃至微觀尺寸的測(cè)量，如倒角和劃痕等讹蘑。

? 以高點(diǎn)密度簡(jiǎn)便的獲得特征信息末盔。 在微小特征處，接觸測(cè)量必須使用足夠小直徑的探針座慰，以求清晰表達(dá)特征詳情陨舱。小探針的強(qiáng)度較弱容易受損，測(cè)量過(guò)程由此中斷版仔。FOP微小的光斑游盲，遠(yuǎn)小于接觸式探針的直徑，更加準(zhǔn)確的獲得細(xì)小輪廓蛮粮。

Leitz PMM-C - 全球超高精度測(cè)量機(jī)的代表之作益缎，領(lǐng)先的掃描技術(shù)加之以最新光纖探測(cè)技術(shù)和I++ Simulator模擬器技術(shù)，通過(guò)這超豪華的組合然想，使得狠罕迹克斯康計(jì)量得以在駕馭整體葉盤(pán)測(cè)量領(lǐng)域駕輕就熟，并在全球航空發(fā)動(dòng)機(jī)領(lǐng)先制造商之一的MTU全球葉盤(pán)測(cè)量項(xiàng)目招標(biāo)中笑到了最后变泄，同等測(cè)試能力的情況下令哟，將整體檢測(cè)時(shí)間縮短了65%，葉片輪廓的測(cè)量時(shí)間縮短更多 - 達(dá)到75%

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