軟件技術(shù),罕惫叮克斯康計(jì)量為業(yè)界提供了完美的四軸葉盤/葉輪檢測方案,實(shí)現(xiàn)了測量過程的自動(dòng)化,參數(shù)、界面的標(biāo)準(zhǔn)化

整體葉盤/葉輪是新一代航空發(fā)動(dòng)機(jī)實(shí)現(xiàn)結(jié)構(gòu)創(chuàng)新和技術(shù)跨越的關(guān)鍵部件琉枚，在簡化航空發(fā)動(dòng)機(jī)結(jié)構(gòu)的同時(shí)酌涮，也具有加工難度大、葉片薄更鼻、扭曲度大豺孤、具有狹窄的凹腔、狹長槽和很深的復(fù)雜幾何形狀等特點(diǎn)。

葉盤是航空發(fā)動(dòng)機(jī)的葉片轉(zhuǎn)子凌秩，采用整體制造技術(shù)而取代了過去多個(gè)部件的組合浦砸。在歐洲，葉盤所有葉片全部檢測段许，每個(gè)葉片需要檢測5 – 8個(gè)截面毯旷，要求三坐標(biāo)測量機(jī)的精度為葉盤公差要求的1/10。整體葉盤/葉輪測量項(xiàng)目多驹毁，形狀復(fù)雜选癣，對測量機(jī)的精度、性能廊席、效率以及軟件評價(jià)性能提出了嚴(yán)格的要求杰刽。

通過采用超高精度的Leitz測量技術(shù)，并配合以轉(zhuǎn)臺和QUINDOS軟件技術(shù)王滤，汉厣克斯康計(jì)量為業(yè)界提供了完美的四軸葉盤/葉輪檢測方案，實(shí)現(xiàn)了測量過程的自動(dòng)化雁乡，參數(shù)第喳、界面的標(biāo)準(zhǔn)化，測量報(bào)告的通用化踱稍。其中關(guān)鍵檢測項(xiàng)目全部采用高速四軸聯(lián)動(dòng)掃描曲饱，大幅度提高了測量效率的同時(shí)，保證了測量精度珠月，圓滿完成葉盤的批量檢測要求扩淀。

利用掃描技術(shù)提升葉盤檢測效率

葉盤檢測的難點(diǎn)之一在于扭曲的復(fù)雜型面，Leitz高速四軸掃描完美地解決了這個(gè)問題啤挎。2010年驻谆，德國Leitz推出高速四軸掃描高效智能控制柜，通過四軸聯(lián)動(dòng)的連續(xù)掃描方式侵浸，使得測量時(shí)間大幅降低的同時(shí)旺韭，保證了高精度與重復(fù)性到趴。

同時(shí)林乍，Leitz所獨(dú)有的VHSS可變高速掃描技術(shù)，可根據(jù)零件曲率變化自動(dòng)調(diào)節(jié)掃描速度阁雷，自動(dòng)識別并刪除無效點(diǎn)戒腔，最優(yōu)化測量數(shù)據(jù)的同時(shí)保證了測量效率。利用VHSS可變高速掃描技術(shù)柒杯，邊緣掃描速度達(dá)2 - 5毫米/秒, 葉盆和葉背最大掃描速度達(dá)100毫米/秒掸枉。

葉輪葉片的前緣通常是一段小圓弧或者曲線，曲率變化較大，常規(guī)測量容易產(chǎn)生較大誤差甚至停機(jī)磷妻，為此鼠灼，Leitz推出了“返回式掃描技術(shù)”解決了這個(gè)問題。利用“返回式掃描技術(shù)”搁赘，在掃描過程中QUINDOS 7實(shí)時(shí)監(jiān)測測頭受力眯词，當(dāng)測頭偏置超出公差或者工件脫離工件表面時(shí)，軟件自動(dòng)修正掃描路徑重新掃描愁反，做到測量過程中“永不停機(jī)”延届，并能做到無人值守的測量操作。如圖是返回式掃描和測頭偏置判斷的命令界面贸诚。

I++ Simulator模擬器提供了葉盤檢測100%的脫機(jī)編程能力：

I++ simulator 是一個(gè)可以使用一臺設(shè)備進(jìn)行集中檢測編程活動(dòng)的編程工具》酵ィ現(xiàn)場的機(jī)器(包括機(jī)器，測頭酱固，更換架械念，校驗(yàn)工具，轉(zhuǎn)臺媒怯，溫度傳感器订讼，夾具，傳送設(shè)備扇苞，存儲托盤欺殿，辦公設(shè)備，測量實(shí)驗(yàn)室鳖敷，工廠等)可以用稱作scenario(場景)的方法進(jìn)行仿真脖苏。這樣。一個(gè)程序可以在一個(gè)或者全部scenario中進(jìn)行編寫和驗(yàn)證定踱，然后分別布置到不同的制造現(xiàn)場進(jìn)行實(shí)施盼掘。

這樣，通過脫機(jī)產(chǎn)生檢測程序耸颁，整個(gè)測量過程在虛擬環(huán)境下就可以進(jìn)行編程和優(yōu)化彰巫，真實(shí)再現(xiàn)實(shí)際的測量環(huán)境，測量機(jī)只需要把主要精力用于完成實(shí)際測量工作舞绝。

HP-O最新光纖探測技術(shù)

基于調(diào)頻干涉式光學(xué)測距技術(shù)童丢，HP-O新型光纖測頭提供了與觸發(fā)式掃描測頭相媲美的精度與可靠性，同時(shí)提供了更快的掃描速度吆踏、擴(kuò)大的測量范圍择车，并擁有通用光學(xué)非接觸測量的優(yōu)勢。如果需要高效的掃描測量轩丁，而觸發(fā)測頭難以接近工件阀严，或者零部件會在觸發(fā)探測過程中變形或受損多析，HP-O將是高精度觸發(fā)掃描的替代選擇。

相對葉盤檢測砚凳，HP-O的獨(dú)特優(yōu)勢體現(xiàn)在：

- 非接觸測量：使得零件免受任何機(jī)械損傷初祠，可避免測針磨損，同時(shí)零件不需要任何噴涂標(biāo)記鳄橘。對有涂層的葉片粤剧，非接觸測量能保持葉片涂層不受損傷。

- 測量點(diǎn)到測頭末端的距離多達(dá)60 mm挥唠。在檢測整體葉盤內(nèi)腔時(shí)抵恋，能夠解決接觸測頭無法達(dá)到的難題。

? 減少機(jī)械探測的局限性宝磨，實(shí)現(xiàn)高效的數(shù)據(jù)采集弧关，提供了更快的掃描速度。如檢測葉盤的葉尖唤锉，直接掃描全部葉片的葉尖世囊，轉(zhuǎn)臺勻速旋轉(zhuǎn)即可。

? 空間分辨率高窿祥，完成最小細(xì)節(jié)乃至微觀尺寸的測量株憾，如倒角和劃痕等。

? 以高點(diǎn)密度簡便的獲得特征信息晒衩。 在微小特征處嗤瞎，接觸測量必須使用足夠小直徑的探針，以求清晰表達(dá)特征詳情囚缝。小探針的強(qiáng)度較弱容易受損糠歧，測量過程由此中斷。FOP微小的光斑旧匈，遠(yuǎn)小于接觸式探針的直徑预第，更加準(zhǔn)確的獲得細(xì)小輪廓。

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